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摘要:
5月5日,SNEC(2010)第四届国际太阳能光伏大会暨(上海)展览会在上海盛大召开。展会上,在光致发光检测仪和质量控制体系研究领域居世界领先的澳洲供应商BT Imaging携最新硅片电性能缺陷自动分选机QS-W1重装亮相。BT Imaging展位前人潮涌动,咨询产品的客户络绎不绝。记者见机采访了BT Imaging的市场营销副经理韦恩·麦克米伦先生。
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文献信息
篇名 原生硅片 在线电性能质量控制已成可能——BT Imaging最新推出QS—W1硅片分选机
来源期刊 中国建设动态:阳光能源 学科 工学
关键词 质量控制体系 自动分选机 BT 硅片 电性能 在线 太阳能光伏 光致发光
年,卷(期) 2010,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 62-63
页数 2页 分类号 TP393.09
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 卢影 10 0 0.0 0.0
2 张丽娟 2 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
质量控制体系
自动分选机
BT
硅片
电性能
在线
太阳能光伏
光致发光
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国建设动态:阳光能源
双月刊
北京市石景山万达广场E座711
出版文献量(篇)
2760
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