CMOS电路电流测试技术研究

• 作者: 梅强 王华
• 来源期刊: 中国西部科技
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS电路 电流测试 静态电流(IDDQ) 动态电流(IDOT)
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TM7
• 字数: 3183字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-6396.2010.06.008

摘要

集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一.CMOS集成电路测试技术,受到人们的广泛关注.本文介绍了CMOS集成电路测试技术基本原理和关键问题,探讨了电流测试的研究进展及现状,并提出了该技术的研究方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王华		6	5	1.0	1.0
2	梅强		4	5	1.0	2.0