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摘要:
利用光电流谱法研究了300 K到60 K温度范围内的p-i-n结构4H-SiC紫外光电探测器的暗电流及相对光谱响应特性.研究发现随着温度的降低,探测器的暗电流和相对光谱响应都逐渐减小;而且,反向偏压越高,暗电流减小的速率越大.在零偏压下,随着温度的降低,器件的相对光谱响应的峰值波长先向短波方向移动,后向长波方向移动,在60 K时移至282 nm附近;同时观察到探测器的相对光谱响应范围略有缩小.此外,我们对器件p、i、n各层产生的光电流随温度变化的机理进行讨论,提出了通过减少i层缺陷和适当减小n层掺杂浓度的方式来提高器件的相对光谱响应.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 4H-SiC紫外光电探测器光电特性随温度变化的研究
来源期刊 量子电子学报 学科 物理学
关键词 光电子学 4H-SiC p-i-n紫外光电探测器 温度特性 光电特性
年,卷(期) 2011,(6) 所属期刊栏目 半导体光电
研究方向 页码范围 737-741
页数 分类号 O472.3
字数 3177字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2011.06.016
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研究主题发展历程
节点文献
光电子学
4H-SiC
p-i-n紫外光电探测器
温度特性
光电特性
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量子电子学报
双月刊
1007-5461
34-1163/TN
大16开
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26-89
1984
chi
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