惠瑞捷推出可扩展测试机台系列——V93000 Smart Scale

• 作者: 胥京宇
• 来源期刊: 世界电子元器件
• 学科: 工学
• 关键词: 智能测试 可扩展 Scale 机台 Advantest 测试覆盖率 高性价比 压力测试
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 页码范围: 74-74
• 分类号: TP216
• 字数: 815字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7604.2011.11.063

摘要

Advantest集团旗下企业惠瑞捷发布了业界首创可扩展、高性价比的测试机台系列，可用来测试28纳米及更小尺寸工艺和3D架构的芯片。SmartScale系列是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台，与惠瑞捷V93000平台完全相容。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域，通过匹配受测器件的准确数据率要求，实现全面的测试覆盖率。配合电源调制、抖动注入和协议通讯等其他重要特性，系统级压力测试如今可在ATE层执行，提高了故障模型覆盖范围。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胥京宇		6	4	1.0	1.0