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基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究
基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究
作者:
常艳昭
苏洋
韩森
原文服务方:
电子质量
异步双端口静态存储器
MTP
V93000
摘要:
随着计算机应用领域的不断发展,处理的信息量越来越多,对存储器的工作速度和容量要求也越来越高,异步双端口静态存储器在高速多处理系统中广泛应用.因此,研究异步双端口静态存储器测试具有十分重要意义.该文以IDT公司的IDT70V631S高速256K*18异步双端口静态存储器器件为例,介绍了异步双端口静态存储器的基本工作原理,阐述了基于V93000测试系统的MTP软件生成测试向量的方法,从而更高效、简便地对异步双端口静态存储器进行评价.
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文献信息
篇名
基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究
来源期刊
电子质量
学科
关键词
异步双端口静态存储器
MTP
V93000
年,卷(期)
2020,(10)
所属期刊栏目
专业测试
研究方向
页码范围
38-44
页数
7页
分类号
TP333
字数
语种
中文
DOI
五维指标
传播情况
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版权信息
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
异步双端口静态存储器
MTP
V93000
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1980-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
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