ATE射频测试板低成本解决方案

• 作者: 孙佳焱
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 低成本 子母板 ATE射频测试板
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: IC制造工艺与设备
• 页码范围: 38-42
• 分类号: TN407
• 字数: 2492字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2011.03.011

摘要

近年来国内无线通讯市场发展迅猛,射频芯片的出货量也快速增长,射频芯片不同于其他SoC芯片,往往是市场周期短,更新速度快,这给芯片的量产测试带来挑战,ATE射频测试板作为测试的重要组件,成为制约测试开发和成本的最关键因素,ADVANTEST推出的低成本射频测试板兼顾了开发效率和测试成本的平衡性,给射频芯片的量产测试带来了全新的解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙佳焱		1	1	1.0	1.0