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Cu-Ni-Si合金析出物对再结晶的影响
Cu-Ni-Si合金析出物对再结晶的影响
作者:
涂明武
王东锋
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
Cu-Ni-Si合金
析出
再结晶
显微硬度
导电率
摘要:
通过分析时效期间Cu-Ni-Si合金显微硬度、导电率以及微观组织的变化,研究了析出相和再结晶行为的相互作用.结果表明,时效初期析出相对随后的再结晶过程具有强烈阻碍作用.在450、550℃较低温度时效时,合金发生原位再结晶,析出相在其体积分数略微升高或不变的情况下发生粗化;导电率上升趋势为先快后慢并趋于稳定,因而其变化曲线上无峰值出现;显微硬度则由于时效后期析出颗粒粗化,析出强化效果降低而出现峰值.在750℃高温时效时,合金发生不连续再结晶,析出相则在体积分数略有降低的情况下发生粗化;导电率先快速上升后缓慢下降因而出现峰值;而显微硬度由于析出物迅速粗化而一开始就表现为持续下降.
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内容分析
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文献信息
篇名
Cu-Ni-Si合金析出物对再结晶的影响
来源期刊
材料热处理学报
学科
工学
关键词
Cu-Ni-Si合金
析出
再结晶
显微硬度
导电率
年,卷(期)
2011,(4)
所属期刊栏目
组织性能
研究方向
页码范围
47-51
页数
分类号
TG146.1
字数
语种
中文
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节点文献
Cu-Ni-Si合金
析出
再结晶
显微硬度
导电率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
材料热处理学报
主办单位:
中国机械工程学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1009-6264
CN:
11-4545/TG
开本:
大16
出版地:
北京市海淀区学清路18号北京电机研究所内
邮发代号:
82-591
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
6505
总下载数(次)
16
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