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基于SEMI标准的集成电路制造装备控制系统设计
基于SEMI标准的集成电路制造装备控制系统设计
作者:
邹龙庆
原文服务方:
电子质量
集成电路制造装备
控制系统
SEMI标准
摘要:
随着集成电路制造装备的复杂度越来越高,设计一个符合SEMI标准的集成电路制造装置控制系统显得尤为重要。针对SEMI标准的要求,提出了一种控制系统的结构设计方法。设计的系统定义了SEMI标准中规定的控制模型与状态模型及其他操作,能够满足实际控制需要与SEMI标准的要求。
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文献信息
篇名
基于SEMI标准的集成电路制造装备控制系统设计
来源期刊
电子质量
学科
关键词
集成电路制造装备
控制系统
SEMI标准
年,卷(期)
2012,(2)
所属期刊栏目
绿色质量观察
研究方向
页码范围
32-34,46
页数
分类号
TP31|TP39
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2012.02.011
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
邹龙庆
重庆邮电大学光电工程学院
1
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版权信息
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参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路制造装备
控制系统
SEMI标准
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1980-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
6848
总下载数(次)
0
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