极化电压与铁电场效应晶体管漏极电流的稳定性关系

• 作者: 曹伟东 王强 章国安 陆健
• 来源期刊: 南通大学学报：自然科学版
• 学科: 工学
• 关键词: 极化电压 铁电场效应晶体管 漏极电流 仿真
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 电子信息工程与计算机科学
• 页码范围: 9-13
• 页数: 5页
• 分类号: TN384
• 字数: 2764字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2340.2012.02.002

摘要

设计了具有金属/铁电体/半导体结构的铁电场效应晶体管（FFET）,并对其特性进行了仿真.结果表明,当Vg=0时,Pr和Ps/Pr的值决定了漏极电流的大小.当Pr增加时,Id随之增大.当FFET饱和极化后,Ps/Pr值增加,Id增大.FFET可以在特定极化电压（Vp=1.5 V）极化后,实现漏极电流的稳定输出,减小了Ps/Pr变化对FFET器件性能的影响.该漏极电流稳定输出时的极化电压值受到矫顽场Ec的影响,且Vp随Ec的减小而降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章国安	南通大学电子信息学院	108	353	9.0	12.0
2	王强	南通大学杏林学院	60	132	6.0	8.0
3	陆健	南通大学杏林学院	27	87	5.0	8.0
4	曹伟东	南通大学杏林学院	1	0	0.0	0.0