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摘要:
主要针对高频线圈于单晶生长过程中,在高频电流及棒体的高温作用下,产生的附加扭矩,改变线圈的设计外形,进行了原因研究、理论计算,并对单晶生长的影响进行了分析。通过采取适当的措施,降低由于线圈的形变对单晶的影响,提高单晶的成晶率。
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文献信息
篇名 区熔单晶生长过程中高频线圈形变篚原因分析及理论计算
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 高频线圈 附加扭矩 区熔单晶
年,卷(期) 2012,(10) 所属期刊栏目 半导体材料及设备
研究方向 页码范围 40-42
页数 3页 分类号 TN304.053
字数 1432字 语种 中文
DOI
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘洪 中国电子科技集团公司第四十六研究所 6 9 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
高频线圈
附加扭矩
区熔单晶
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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3731
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