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区熔单晶生长过程中高频线圈形变篚原因分析及理论计算
区熔单晶生长过程中高频线圈形变篚原因分析及理论计算
作者:
刘洪
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
高频线圈
附加扭矩
区熔单晶
摘要:
主要针对高频线圈于单晶生长过程中,在高频电流及棒体的高温作用下,产生的附加扭矩,改变线圈的设计外形,进行了原因研究、理论计算,并对单晶生长的影响进行了分析。通过采取适当的措施,降低由于线圈的形变对单晶的影响,提高单晶的成晶率。
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相关文献总数
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文献信息
篇名
区熔单晶生长过程中高频线圈形变篚原因分析及理论计算
来源期刊
电子工业专用设备
学科
工学
关键词
高频线圈
附加扭矩
区熔单晶
年,卷(期)
2012,(10)
所属期刊栏目
半导体材料及设备
研究方向
页码范围
40-42
页数
3页
分类号
TN304.053
字数
1432字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘洪
中国电子科技集团公司第四十六研究所
6
9
2.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
参考文献
(0)
节点文献
引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
2012(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
高频线圈
附加扭矩
区熔单晶
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-4507
CN:
62-1077/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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