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摘要:
SJ—LDMOST是半导体功率集成技术的核心器件之一,但其击穿电压和比导通电阻之间的优化决定于衬底辅助耗尽效应的消除。这里在分析衬底辅助耗尽效应机理的基础上,将业界消除衬底辅助耗尽效应的主要方法分成两类,并提出通过引入新构造提高漏极纵向击穿电压以彻底消除衬底辅助耗尽效应的途径。
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内容分析
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文献信息
篇名 SJ—LDMOST中的衬底辅助耗尽效应
来源期刊 电源技术应用 学科 工学
关键词 SJ—LDMOST 功率集成电路 衬底辅助耗尽效应 击穿电压
年,卷(期) 2012,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 45-47
页数 3页 分类号 TN386.1
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1 成建兵 南京邮电大学微电子系 9 7 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
SJ—LDMOST
功率集成电路
衬底辅助耗尽效应
击穿电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电源技术应用
月刊
0219-2713
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座24层
1998
chi
出版文献量(篇)
6708
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26
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11064
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