论文降重
免费查重
Bitstream decoding and SEU-induced failure analysis in SRAM-based FPGAs
基本信息来源于合作网站，原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要：
推荐文章
基于 TDICE单元的SRAM 抗 SEU 加固设计
SRAM
单粒子翻转
DICE
读写分离
TDICE
基于DICE单元的抗SEU加固SRAM设计
SEU加固
SRAM
DICE单元
SRAM型FPGA的抗SEU方法研究
单粒子翻转
现场可编程门阵列
三模冗余
错误代码校验
空间电子干扰
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献 (0)
共引文献 (0)
参考文献 (0)
节点文献
引证文献 (0)
同被引文献 (0)
二级引证文献 (0)
2012(0)
- 参考文献(0)
- 二级参考文献(0)
- 引证文献(0)
- 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
FPGA
SRAM
比特流
SEU
解码
故障分析
基础
Xilinx公司
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国科学
主办单位：
出版周期：
月刊
ISSN：
CN：
CN 11-1789/N
开本：
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
3119
总下载数（次）
13
总被引数（次）
0
期刊文献
相关文献
推荐文献
