用于纳米超大规模集成电路设计的统计性能分析及建模技术

• 作者: 胡光华
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 超大规模集成电路 集成电路设计 建模技术 性能分析 纳米 统计 芯片性能 不确定性
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 19-20
• 页数: 2页
• 分类号: TN47

摘要

随着技术尺度下降到纳米范畴、工艺方法的变化和芯片性能的不确定性变得更加明显。对于超大规模集成电路（VL—SI）芯片的成功设计而言，对从器件到系统结构变化的准确和有效的建模或者表征已经必不可少。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡光华	原中国科学院物理学研究所	254	0	0.0	0.0