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关于集成电路的故障与检测研究
关于集成电路的故障与检测研究
作者:
王凤睿
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
集成电路
故障分析
检测方法
摘要:
伴随着电子技术的发展,集成电路的应用越来越广泛.集成电路的集成度越来越高,集成电路的引出脚也越来越多,对电子电路的故障分析与检测方法要求也越来越高.本文从故障分析与检测方法角度出发,论述了集成电路故障的有效分析、检测方法,对某些分析方法的利弊作了简要的说明.
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篇名
关于集成电路的故障与检测研究
来源期刊
世界家苑
学科
关键词
集成电路
故障分析
检测方法
年,卷(期)
2012,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
350
页数
分类号
字数
2040字
语种
中文
DOI
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王凤睿
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检测方法
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期刊影响力
世界家苑
主办单位:
吉林人民出版社
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-9603
CN:
22-1337/GO
开本:
出版地:
长春市人民大街7548号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
chi
出版文献量(篇)
8736
总下载数(次)
16
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