功率IGBT模块的寿命预测

• 作者: Chamund Dinesh Jones Steve 刘国友 忻兰苑 李世平 王彦刚 窦泽春
• 来源期刊: 机车电传动
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT模块 可靠性 功率循环试验 失效机制 寿命预测
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 技术专题
• 页码范围: 13-17,27
• 页数: 6页
• 分类号: TN34
• 字数: 5534字
• 语种: 中文

摘要

介绍了功率循环试验数据的威布尔分析方法,分析了现有的典型模块寿命模型,论述了寿命预测的方法:将任务曲线转化成温度曲线,利用雨流计数法,根据线性疲劳损伤积累理论和寿命模型计算功率循环寿命.最后,预测了应用于HXD1C电力机车的株洲南车时代电气股份有限公司3 300 V/1 200 A IGBT模块的功率循环寿命.