基于ATE的SOC共时测试的实现方法

• 作者: 陶新萱
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 关键词: SOC测试 共时测试 ATE 测试方法
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 行业应用
• 页码范围: 67-70
• 页数: 4页
• 字数: 2334字
• 语种: 中文

摘要

共时测试是一种并行测试方法,基于机台硬件资源的独立性,结合软件的多端口特性,可对不同测试条件和测试原理的电路模块进行有效的并行测试.V9 3000具有per-pin的硬件结构,每个数字通道具有独立的测试处理器,满足共时测试的需求.在对不同V9 3000 ATE机台中如何采用共时测试方法对SOC芯片进行测试讨论的基础上,重点对不同测试频率的并行实现方法进行分析,该方法相对传统的串行测试,可以有效降低测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陶新萱	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	3	5	2.0	2.0