基于折叠计算的多扫描链BIST方案

• 作者: 常郝 易茂祥 李扬 李松坤 李鑫 梁华国 王伟
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 折叠计算 内建自测试 多扫描链 测试应用时间
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 557-563
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.7
• 字数: 5910字
• 语种: 中文

摘要

为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播；然后利用折叠计算理论对测试集进行垂直方向上的压缩,使得同一折叠种子生成的相邻测试向量仅有1位不同,且在测试过程中测试向量并行移人多扫描链,在ISCAS标准电路上的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为95.07％,平均测试应用时间为之前方案的13.35％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	王伟	合肥工业大学计算机与信息学院	162	1275	18.0	27.0
3	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
4	常郝	合肥工业大学计算机与信息学院	10	80	6.0	8.0
5	李鑫	合肥工业大学计算机与信息学院	66	265	8.0	12.0
6	李扬	合肥工业大学计算机与信息学院	14	108	7.0	10.0
10	李松坤	合肥工业大学计算机与信息学院	1	3	1.0	1.0