一个超大规模集成电路芯片功能测试的系统方案

• 作者: 刘星洋 高琳
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: 功能特性 固定0-1故障 桥接故障 标准输入矩阵
• 年，卷（期）: 2013,（4X）
• 页码范围: 2866-2870
• 页数: 5页
• 分类号: TN47

摘要

在超大规模集成电路芯片中,电路板的详细实现通常是不知道的,只有功能特性对用户是公开的。在这篇论文中,我们呈现了一个系统的方案,仅仅基于被测电路板的功能特性,我们可以检测出并确定出固定故障和桥接故障。被提议的这个方案对于学术和工业超大规模集成电路使用者检测固定故障和桥接故障以及确认芯片的功能都及有帮助。规则和实验结果将会被报告。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高琳		4	0	0.0	0.0
2	刘星洋		6	11	2.0	3.0