一种集成电路老化测试设备的嵌入式系统设计

• 作者: 张福洪 徐春晖 陈光浩
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 老化测试 嵌入式系统移植 驱动程序开发 通信接口
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 工程实践
• 页码范围: 891-895
• 页数: 5页
• 分类号: TP274+.5
• 字数: 3033字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2014.05.038

摘要

针对传统集成电路老化过程耗时长,老化成本高的问题,提出了老化中测试的研制方案.老化测试将器件的测试与老化过程同时进行,从而节约时间与成本.为了提高老化测试设备的通用性和性能指标,将嵌入式系统引用到老化测试设备领域,通过移植嵌入式Linux系统,开发驱动实现通信接口协议,编写老化测试代码,实现了芯片老化过程中的流程控制及数据通信功能.经实际电路仿真验证,能够实现64路数字信号通道芯片的老化测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张福洪	杭州电子科技大学通信工程学院	110	492	11.0	16.0
2	陈光浩	杭州电子科技大学通信工程学院	1	6	1.0	1.0
3	徐春晖	杭州电子科技大学通信工程学院	3	19	3.0	3.0