嵌入式存储器空间单粒子效应失效率评估方法研究

• 作者: 支天 李天文 杨海钢 王新刚 秋小强 蔡刚
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 嵌入式存储器 单粒子效应(SEE) 失效率 评估
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 3035-3041
• 页数: 7页
• 分类号: TN432
• 字数: 5011字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1146.2013.02025

摘要

嵌入式存储器易受到空间单粒子效应(Single-Event Effects, SEE)的影响。该文提出了一种单粒子效应失效率评估的方法，包含了单粒子翻转和单粒子瞬态扰动等效应对嵌入式存储器不同电路单元的具体影响，可对不同存储形式、不同容错方法的嵌入式存储器单粒子效应失效率进行定量评估。该文提出的评估方法在中国科学院电子学研究所自主研制的嵌入式可编程存储器试验芯片上得到了验证，地面单粒子模拟实验表明该文方法预测的失效率评估结果与实验测试结果的平均偏差约为10.5%。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨海钢	中国科学院电子学研究所	134	485	10.0	15.0
2	王新刚	中国科学院电子学研究所	5	57	4.0	5.0
6	蔡刚	中国科学院电子学研究所	13	35	4.0	5.0
7	李天文	中国科学院电子学研究所	8	19	3.0	4.0
11	支天	中国科学院电子学研究所	7	12	2.0	3.0
15	秋小强	中国科学院电子学研究所	5	23	4.0	4.0