一款验证标准单元库功能与延迟测量的芯片

• 作者: 王浩 黄璐
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: 标准单元库 延迟 环形振荡器 布局布线
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 50-54
• 页数: 5页
• 字数: 2225字
• 语种: 中文

摘要

本文设计了一款测试芯片用于验证标准单元库功能以及延迟测量,其中验证标准单元库功能部分电路采用的是数字集成电路的自动化设计流程,实现了对0.18um标准单元库功能准确性的物理验证,缩短了单元库的验证周期;另一方面利用标准单元库搭建的环形振荡器,来帮助测量验证标准单元库门电路延迟时间的准确性.最后利用Synopsys公司Astro工具对两部分电路进行布局布线,并流片测试验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王浩		8	20	2.0	4.0
2	黄璐		1	7	1.0	1.0