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摘要:
PECVD设备及工艺技术已在半导体前道互连工艺及TSV领域展现了其广阔的应用前景,介绍了拓荆PECVD在TSV领域的应用,展现其良好的工艺表现.
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现场总线
ControlNet
PECVD
一种TSV阵列的串扰抑制设计方法
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硅通孔阵列
差分TSV
串扰
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TSV故障
电容耦合
非接触测试电路
延时
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三维封装微系统TSV转接板技术研究
硅通孔
串扰耦合
电磁仿真
传输特性
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 PECVD在TSV领域的应用
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 等离子体增强化学气相沉积(PECVD) 硅通孔技术(TSV) 正硅酸乙酯(TEOS) 二氧化硅薄膜(SiO2)
年,卷(期) 2014,(7) 所属期刊栏目 先进封装技术与设备
研究方向 页码范围 6-8,12
页数 4页 分类号 TN305.96
字数 1737字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李晶 1 0 0.0 0.0
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2014(0)
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研究主题发展历程
节点文献
等离子体增强化学气相沉积(PECVD)
硅通孔技术(TSV)
正硅酸乙酯(TEOS)
二氧化硅薄膜(SiO2)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
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