触点初始接触电阻的分布特征与寿命相关性研究

• 作者: 张菲菲 李志刚
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 继电器 触点 接触电阻 核概率密度 多项式拟合 初始信息 寿命
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 104-107
• 页数: 4页
• 分类号: TP202.1
• 字数: 3619字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2014.11.025

摘要

为实现用初始信息来预测继电器产品的寿命，在继电器电寿命试验的基础上，提出用核概率密度估计法和多项式拟合法对触点初始接触电阻的分布特征进行分析，并研究了初始接触电阻与寿命的相关性。研究结果表明：各个继电器初始接触电阻的变化趋势不同，起伏不定。当初始接触电阻连续出现大电阻值后，即使接触电阻随后重新回到正常值，继电器仍会很快发生失效，寿命较短；继电器初始接触电阻拟合曲线的最大值与寿命之间呈现近似线性关系。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电气工程学院	150	975	15.0	22.0
2	张菲菲	河北工业大学电气工程学院	8	71	4.0	8.0