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孔电阻变异影响因素分析
孔电阻变异影响因素分析
作者:
刘克敢
张军杰
韩启龙
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
孔电阻
镀铜
减成法
摘要:
目前市场上越来越多的客户要求进行低电阻高绝缘的电子测试,这类PCB中,部分PCB线路不单是导线同时还是信号线,线路的阻值变化会造成信号的延滞和衰减,引发功能性问题.本文主要介绍了孔电阻的测试原理,通过对影响孔阻值变化的因素进行分析验证,并逐个分析论证,最终定位问题根源之所在.
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篇名
孔电阻变异影响因素分析
来源期刊
印制电路信息
学科
工学
关键词
孔电阻
镀铜
减成法
年,卷(期)
2015,(1)
所属期刊栏目
检测技术
研究方向
页码范围
23-25
页数
3页
分类号
TN41
字数
1913字
语种
中文
DOI
五维指标
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单位
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1
刘克敢
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孔电阻
镀铜
减成法
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研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
印制电路信息
主办单位:
印制电路行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1009-0096
CN:
31-1791/TN
开本:
大16开
出版地:
上海市闽行区都会路2338号95号楼CPCA大厦2楼
邮发代号:
创刊时间:
1993
语种:
chi
出版文献量(篇)
5458
总下载数(次)
19
总被引数(次)
10164
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