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摘要:
目前市场上越来越多的客户要求进行低电阻高绝缘的电子测试,这类PCB中,部分PCB线路不单是导线同时还是信号线,线路的阻值变化会造成信号的延滞和衰减,引发功能性问题.本文主要介绍了孔电阻的测试原理,通过对影响孔阻值变化的因素进行分析验证,并逐个分析论证,最终定位问题根源之所在.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 孔电阻变异影响因素分析
来源期刊 印制电路信息 学科 工学
关键词 孔电阻 镀铜 减成法
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 检测技术
研究方向 页码范围 23-25
页数 3页 分类号 TN41
字数 1913字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘克敢 18 114 2.0 10.0
2 张军杰 7 20 3.0 4.0
3 韩启龙 8 20 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
孔电阻
镀铜
减成法
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
印制电路信息
月刊
1009-0096
31-1791/TN
大16开
上海市闽行区都会路2338号95号楼CPCA大厦2楼
1993
chi
出版文献量(篇)
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