基于Delta RCS的RFID标签天线方向图测量方法

• 作者: 全绍辉 陆希贤
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: RFID 方向图 标签 双站散射 雷达截面差值
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 测诗与封装
• 页码范围: 689-692
• 分类号: TN820.1
• 语种: 中文

摘要

RFID标签天线方向图是RFID标签的一项重要性能指标.由于标签没有标准的接口进行馈电,很难采用传统的天线测量方法测量标签天线方向图.基于RFID标签的双站散射原理和雷达截面差值(△RCS)概念,提出了一种新的测试方法,可以对封装好的商业标签进行天线方向图测量.通过对一种商用超高频标签进行实测与仿真,证明两者的结果具有很好的一致性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	全绍辉	北京航空航天大学电子信息工程学院	24	83	5.0	8.0
2	陆希贤	北京航空航天大学电子信息工程学院	2	4	1.0	2.0