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摘要:
采用基于密度泛函理论的第一性原理赝势法,研究了Al掺杂对于MgO保护层电子结构的影响。采用Hagstrum’s 理论计算了在不同放电气体环境下,不同Al掺杂比例的Mg1-xAlxO的能带结构和态密度分布,分别获得了基于俄歇中和和俄歇退激理论的二次电子发射系数。结果表明,Al掺杂MgO能有效提高二次电子发射系数,且在氦气环境下二次电子发射系数的提高尤为显著。当Al掺杂比例为0.375时,在氦气环境下基于俄歇中和和俄歇退激理论的二次电子发射系数最大,分别为0.4191和0.4316(纯MgO为0.3543、0.4060)。
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文献信息
篇名 Al掺杂MgO保护层对二次电子发射系数的影响
来源期刊 电子科技大学学报 学科 物理学
关键词 Al掺杂MgO 第一性原理 等离子体显示器 保护层 二次电子发射系数
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目 物理电子学
研究方向 页码范围 375-380
页数 6页 分类号 O461.2
字数 440字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 曾葆青 电子科技大学物理电子学院 50 149 7.0 8.0
2 邓江 成都信息工程学院光电技术学院 5 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
Al掺杂MgO
第一性原理
等离子体显示器
保护层
二次电子发射系数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技大学学报
双月刊
1001-0548
51-1207/T
大16开
成都市成华区建设北路二段四号
62-34
1959
chi
出版文献量(篇)
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