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银粉含量及几何特征对银浆流变性能的影响
银粉含量及几何特征对银浆流变性能的影响
作者:
刘卓峰
刘发
张为军
秦峻
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
银浆
银粉体积分数
粒径
零剪切黏度
回复性能
Cross 模型
摘要:
通过流变仪系统地研究了银粉体积分数、粒径、片银含量对浆料剪切黏度和回复性能的影响,应用Cross模型对剪切黏度曲线拟合得到浆料的零剪切黏度。结果表明:银粉体积分数为13%时,银粉粒径及形貌对浆料的零剪切黏度和回复性能影响较小;银粉体积分数分别增大到20%,46%时,浆料的零剪切黏度上升,回复性能下降,且零剪切黏度随着银粉粒径的减小而明显增大。
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文献信息
篇名
银粉含量及几何特征对银浆流变性能的影响
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
银浆
银粉体积分数
粒径
零剪切黏度
回复性能
Cross 模型
年,卷(期)
2015,(8)
所属期刊栏目
研究与试制
研究方向
页码范围
65-68
页数
4页
分类号
TM241
字数
3530字
语种
中文
DOI
10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.08.016
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张为军
国防科技大学航天科学与工程学院
51
571
14.0
22.0
2
刘卓峰
国防科技大学航天科学与工程学院
10
161
6.0
10.0
3
刘发
国防科技大学航天科学与工程学院
1
6
1.0
1.0
4
秦峻
国防科技大学航天科学与工程学院
4
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参考文献(0)
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参考文献(0)
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二级引证文献(0)
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引证文献(3)
二级引证文献(1)
2018(4)
引证文献(1)
二级引证文献(3)
2019(5)
引证文献(1)
二级引证文献(4)
2020(4)
引证文献(1)
二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
银浆
银粉体积分数
粒径
零剪切黏度
回复性能
Cross 模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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