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摘要:
为了获得In0.83Ga0.17As探测器的暗电流机制,采用了TCAD软件对吸收层中含有和不合有超晶格电子势垒的p-i-n结构探测器暗电流特性进行仿真,并开展了器件验证.结果表明,超晶格势垒可以调整器件的能带结构,改变载流子传输特性,降低SRH复合,从而降低器件的暗电流,仿真结果与实验结果吻合.在此基础上,分析了势垒位置和周期变化对暗电流的影响,提出了进一步降低器件暗电流的超晶格电子势垒优化结构.
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篇名 含有超晶格电子势垒的In0.83Ga0.17 As探测器暗电流仿真和验证
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 工学
关键词 In0.83Ga0.17 As探测器 超晶格电子势垒 暗电流 TCAD仿真
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 662-666
页数 5页 分类号 TN215
字数 1359字 语种 中文
DOI 10.11972/j.issn.1001-9014.2016.06.005
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超晶格电子势垒
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红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
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