原文服务方: 电子质量       
摘要:
针对某产品中场效应管IRF840参数超标问题,通过理论分析和试验验证,IRF840失效机理为:G-S间遭受ESD,引起栅氧化层局部损伤,造成G-S间漏电流增大,绝缘电阻大大下降,参数超标。从人体静电防护、焊接工艺完善、器件加固设计等方面提出了改进措施,有效防止ESD对产品的损伤。
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文献信息
篇名 场效应管静电失效与防护措施研究
来源期刊 电子质量 学科
关键词 场效应管 失效 静电放电 措施
年,卷(期) 2016,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 65-67
页数 3页 分类号 TN386.1
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩克华 17 66 6.0 7.0
2 任西 16 71 5.0 7.0
3 王殿湘 6 30 3.0 5.0
4 杨洁 3 5 1.0 2.0
5 赵力甦 1 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
场效应管
失效
静电放电
措施
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
6848
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