一款新研制ASIC器件的单粒子效应检测与故障定位

• 作者: 于庆奎 张洪伟 梅博 罗磊 董艺
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: ASIC器件 辐射效应 单粒子效应 故障注入 故障树分析 仿真
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 测量与测试技术
• 页码范围: 202-206
• 页数: 5页
• 分类号: TN406|V416.5
• 字数: 2963字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2017.02.016

摘要

针对一款国产新研ASIC器件抗单粒子能力评估的需要,研制了ASIC器件单粒子效应检测系统.通过单粒子效应评估试验,得到了该器件在Kr离子辐照下的单粒子翻转数据.采用故障树分析和电路仿真技术,对ASIC器件内部单粒子翻转敏感模块进行定位.研究成果可为器件厂家后续设计改进和卫星型号系统级抗辐射加固设计提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于庆奎		8	10	2.0	3.0
2	罗磊		3	7	1.0	2.0
3	梅博		6	9	2.0	3.0
4	董艺		3	3	1.0	1.0
5	张洪伟		6	7	2.0	2.0