基于C-V模型的电晕放电紫外成像分割及特征量研究

• 作者: 伊仁图太 张宏钊 李勋 胡元潮
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 紫外成像 电晕放电 图像处理 C-V模型 特征量
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 123-128,133
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2017.08.021

摘要

高压设备因绝缘缺陷发生电晕放电时,设备表面会辐射出紫外光,利用紫外成像技术可以检测电晕放电位置与放电强度并判断高压设备的绝缘缺陷.紫外成像仪利用“光子数”表征放电强度,由于环境噪声干扰,“光子数”特征量并不准确,有时甚至误差很大.为了更准确地描述电晕放电状态,文中提出基于C-V水平集模型提取图像特征量来表征电晕放电特性的新方法.首先引入C-V水平集模型对紫外图像进行分割处理,然后根据提取出的放电区域和区域边界点坐标,定义了光斑面积、边界周长、长轴、短轴等参数来评估放电状态,给出了干扰因素的修正方法.最后,通过变电站绝缘子外表面放电的紫外图像C-V模型运算实例,说明该计算方法能在不进行图像滤波预处理的情况下,精确分割出放电区域,自动化程度高,且对不同背景的紫外图像适应性较好.