作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
ESD是静电放电的英文缩写,ESD现象是生产与制造集成电路过程中较为普遍的现象,这一现象会直接缩短集成电路使用寿命,降低其使用性能.本文从集成电路ESD现象成因入手,研究分析了集成电路ESD的防护器件以及需要使用的防护技术.
推荐文章
CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
CMOS集成电路中电源和地之间的ESD保护电路设计
互补型金属氧化物集成电路
静电放电
保护电路
电源和地
CMOS集成电路中ESD保护技术研究
静电放电
失效模式
ESD保护电路
栅耦舍
集成电路抗ESD设计中的TLP测试技术
静电放电
传输线脉冲
测试技术
人体模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 集成电路的ESD防护技术分析
来源期刊 数字技术与应用 学科 工学
关键词 集成电路 ESD防护技术 防护器件
年,卷(期) 2017,(9) 所属期刊栏目 学术论坛
研究方向 页码范围 231-232
页数 2页 分类号 TN402
字数 2344字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-9416.2017.09.124
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 何晓婵 2 3 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (4)
共引文献  (5)
参考文献  (2)
节点文献
引证文献  (3)
同被引文献  (10)
二级引证文献  (4)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2012(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2015(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2017(3)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(1)
2017(3)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2018(3)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(1)
2019(3)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(3)
2020(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
集成电路
ESD防护技术
防护器件
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
数字技术与应用
月刊
1007-9416
12-1369/TN
16开
天津市
6-251
1983
chi
出版文献量(篇)
20434
总下载数(次)
106
总被引数(次)
35701
论文1v1指导