高可靠固态厚膜熔断器耐脉冲能力研究

• 作者: 张义 张希涛 彭昌文 武志新 王征 陈德舜
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 高可靠固态厚膜熔断器 脉冲次数 I2t 冷态电阻 变化因子 关系曲线
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 58-63
• 页数: 6页
• 分类号: TM277
• 字数: 3190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.03.011

摘要

熔断器在经受一定循环次数脉冲电流冲击后会产生寿命疲劳,进而发生产品熔断失效.选取航天器用高可靠固态厚膜熔断器作为典型品种,开展高可靠固态厚膜熔断器的耐脉冲能力研究,将影响熔化热能I2t值的峰值电流和脉冲冲击时间作为变化因子设计不同的试验条件,对试验结果及数据进行系统、深入地分析,得到了高可靠固态厚膜熔断器在不同脉冲I2t值下降额使用因子和关系曲线,为后续航天型号任务选用该结构熔断器提供借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王征		9	18	3.0	4.0
2	武志新		3	0	0.0	0.0
3	张义		11	13	3.0	3.0
4	彭昌文		6	6	1.0	2.0
5	陈德舜		4	4	1.0	2.0
6	张希涛		2	0	0.0	0.0