宇航用某新型膜式熔断器应用验证方法设计与实现

• 作者: 丁丽娜 刘辉 孙明 张洪伟 彭昌文
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 宇航 新型膜式熔断器 应用验证 可靠性 适用性 应用评价
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 所属期刊栏目: 技术与应用
• 页码范围: 89-94
• 页数: 6页
• 分类号: TM563
• 字数: 3841字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.09.018

摘要

新型膜式熔断器作为电路保护的关键元件在电子系统中应用广泛,为满足航天应用的需求,对新型膜式熔断器可靠性及适用性也提出了更高的性能指标要求.通过对熔断器功能性能进行分析,结合航天工程中实际电路设计时的应用需求,针对宇航用新型膜式熔断器首创性设计了应用验证评价指标与验证方法,首次实现了对新型熔断器在航天工程应用中的适用性及可靠性评价,可作为航天工程应用的指导依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙明	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	7	50	4.0	7.0
2	张洪伟	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	9	42	4.0	6.0
3	彭昌文		6	6	1.0	2.0
4	丁丽娜	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	1	1	1.0	1.0
5	刘辉	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	2	1	1.0	1.0