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1958年7月:基尔比构想出集成电路
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摘要：
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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
管理
CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路技术的发展趋势研究
集成电路技术
CMOS器件
系统集成芯片
工业控制
集成电路封装技术可靠性探讨
集成电路
封装材料
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科技纵览
主办单位：
中国科学技术信息研究所
科学技术文献出版社
出版周期：
月刊
ISSN：
2095-4409
CN：
10-1080/N
开本：
出版地：
北京市海淀区复兴路15号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
chi
出版文献量（篇）
1739
总下载数（次）
5
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48
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