集成电路可靠性分析中简档模式的研究及实现

• 作者: 徐江 浦孝燕
• 来源期刊: 电子制作
• 关键词: 集成电路 可靠性分析 简档模式 研究
• 年，卷（期）: 2018,（10）
• 所属期刊栏目: 信息工程
• 页码范围: 46-47
• 页数: 2页
• 字数: 2646字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-5059.2018.10.021

摘要

伴随集成电路工艺的不断发展,在实施设计芯片期间,晶体管器件可靠性问题已经成为一项重要的内容.Cadence的可靠性仿真分析工具RelXPert能够对于计算MOS器件的热载流子注入效应以及负偏置温度不稳定性和正偏置温度不稳定性效应进行仿真.未获得到最佳的仿真成效,本研究展开RelXPert简档模式仿真流程设计,采取这种科学的RelXPert简档模式,能够使得电路可靠性仿真结果更具有精准度,将设计性能明显的提升.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐江		3	0	0.0	0.0
2	浦孝燕		1	0	0.0	0.0