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摘要:
热退火不但可以减少GaN阴极样品中的各种缺陷和寄生电容,改善材料的结晶属性,而且可以改善样品的表面质量,对提高样品的光谱响应是一种有力的手段.对GaN阴极样品进行了不同温度、不同时间的退火处理,使样品的性能得到了改善,最优条件下样品的暗电流为200 pA,电阻率为1.6Ω·cm,最大光谱响应为0.19 A/W.依据光谱响应作为评估标准,可以得出,采用700℃热退火10 min制备出的阴极具有更高的光电发射性能,从而实现了GaN光电阴极的优化制备工艺.
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文献信息
篇名 热退火对GaN阴极光电发射性能的影响
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 光电子学 光电子器件 光谱响应 光电发射 光电阴极 氮化镓 退火
年,卷(期) 2019,(1) 所属期刊栏目 固态电子器件及材料
研究方向 页码范围 19-22
页数 4页 分类号 O433|TN205
字数 2008字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2019.01.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 常本康 南京理工大学电子工程与光电技术学院 234 2020 19.0 30.0
2 任艺 商丘职业技术学院机电系 22 52 4.0 6.0
3 李飙 商丘师范学院电子电气工程学院 7 8 1.0 2.0
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期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
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27643
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