一种高效测试交流参数的方法研究

• 作者: 章慧彬 赵桦
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 测试技术 测试机台 时间测试单元
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 1316字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1005

摘要

随着科学技术的快速发展,集成电路都朝着高速、高精度方向发展,对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高.为了实现比传统的测试方式更加快速准确的交流参数测试,利用V93000集成电路测试系统,通过对Smart Scale卡上pin脚通道的时间测试单元(TMU)进行编程控制,即可达到目标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵桦		1	1	1.0	1.0
2	章慧彬		2	1	1.0	1.0