基于电路结构的测试移位功耗优化方法

• 作者: 卢新元 孟祥刚 许超 陈华军
• 来源期刊: 高技术通讯
• 关键词: 扫描单元 电路结构 测试移位功耗 动态规划 测试开销
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机与通信技术
• 页码范围: 523-529
• 页数: 7页
• 字数: 4630字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2019.06.001

摘要

研究了扫描结构和测试功耗优化技术,考虑到现有的修改扫描单元结构降低测试移位功耗的方法存在冗余开销的问题,提出一种新的基于电路结构的测试移位功耗优化方法.该方法充分利用芯片内部的电路结构,通过分析扫描单元的扇出结构及其控制值,并根据分析结果和权重分配规则动态规划扫描单元的优化顺序,减少处理扫描单元的数量,避免产生冗余的测试开销.同时保证组合逻辑在移位过程中保持不翻转或者尽量不翻转,从而达到降低测试移位功耗的目的.在ITC'99基准电路上的实验结果表明,采用上述优化方法后组合逻辑的移位功耗降低了8.18％到96.98％,时序逻辑的移位功耗降低了41.92％到71.74％,与现有修改扫描单元的方法相比,面积开销节省了6.71％到20.95％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟祥刚	南开大学电子信息与光学工程学院	5	11	3.0	3.0
2	陈华军		2	0	0.0	0.0