一种0.11μm SRAM PUF芯片的测试与分析

• 作者: 刘伟 刘登科 吴菲 宋贺伦 殷志珍 茹占强 赵俊君
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA SRAM PUF 串口通信 芯片测试
• 年，卷（期）: 2019,（17）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 88-94
• 页数: 7页
• 分类号: TN432
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1902719

摘要

物理不可克隆函数(PUF)是一种新型的信息安全硬件,在物联网、消费电子等领域正得到越来越广泛的应用.由于易于设计和制造,而且性能稳定,基于SRAM的PUF是目前得到工业界最广泛应用的PUF类型.针对一款自主设计的基于华虹0.11 μmCMOS工艺的SRAM PUF,通过设计FPGA测试电路,PUF芯片测试板,对PUF芯片的片内汉明距离、片间汉明距离、稳定性等关键指标进行了详细测试和分析.测试结果表明,该PUF的片间汉明距离达到42.2％,片内汉明距离20.0％,可以满足身份识别、电子标签等应用的需求.同时,提出了对不稳定位进行筛选的系统级优化方法,可以在不进行模糊提取的情况下将片内汉明距离降低到2.1％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘伟	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	422	5903	37.0	59.0
2	宋贺伦	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	8	26	4.0	4.0
3	吴菲	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	6	1	1.0	1.0
4	茹占强	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	2	0	0.0	0.0
5	刘登科	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	2	50	1.0	2.0
6	殷志珍	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	2	0	0.0	0.0
7	赵俊君	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	1	0	0.0	0.0