缓解由NBTI效应引起的电路老化研究

• 作者: 王威猛
• 来源期刊: 电脑知识与技术:学术版
• 学科: 工学
• 关键词: NBTI效应 电路老化 门替换 输入向量控制
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 页码范围: 263-264
• 页数: 2页
• 分类号: TN407

摘要

随着科学技术的进步,晶体管尺寸不断逼近物力极限,使得NBTI((Negative Bias Temperature Instability))效应成为影响集成电路老化的主要因素。现有很多方法缓解电路的NBTI点,如何避免每种方法的缺点而尽可能地发挥其最大的优势成为研究的重点。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王威猛	安徽理工大学计算机科学与工程学院	2	0	0.0	0.0