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摘要:
近年来,人工智能、大数据、物联网等领域的快速发展,使新原理信息存储器件的设计、制造成为半导体等产业的重点发展方向.阻变存储器因具有优异的存储特性、良好的尺寸化能力、易于高密度集成等显著优点,被视为下一代非挥发性存储器的理想解决方案.但是由于发生电阻转变的区域难以观测,阻变器件的转变机制一直存在争议.该文利用飞行时间-二次离子质谱对阻变存储单元中元素的三维分布进行探测,有效地证明了电阻转变机制与金属电极原子的扩散无关,而是由氧化物薄膜本身的电学特性所决定的.该文的工作对阻变存储器件的机理探究、设计制备和性能改进具有十分积极的意义.
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文献信息
篇名 阻变存储单元中元素的三维分布
来源期刊 湘潭大学自然科学学报 学科 数学
关键词 存储器 飞行时间-二次离子质谱 三维 转变机制
年,卷(期) 2020,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 122-126
页数 5页 分类号 O152.1
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
存储器
飞行时间-二次离子质谱
三维
转变机制
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
湘潭大学自然科学学报
双月刊
1000-5900
43-1066/TN
湖南省湘潭市湘潭大学期刊社
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出版文献量(篇)
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