基于OMP的SRAM成品率分析的分组建模方法

• 作者: 张龙 杨帆 梁堃 赵振国
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 分组建模 正交匹配追踪 重要性采样 静态随机存取存储器成品率预测
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 155-159
• 页数: 5页
• 分类号: TN492
• 字数: 3862字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA2018159

摘要

静态随机存取存储器(SRAM)电路的失效是极小概率事件,并且不同电路条件下的失效区域边界可能相距很远.因此,为了更高效地获得更精准的SRAM成品率预测结果,提出一种基于正交匹配追踪(OMP)算法的SRAM性能分组建模方法,并应用于典型SRAM电路成品率的预测.此方法主要根据不同SRAM电路条件下失效区域边界距离的差异将仿真数据划分为多组,之后利用OMP算法对不同组的数据分别建立多项式模型,该模型可用于对SRAM电路的成品率进行快速分析预测.与标准蒙特卡洛统计算法及基于OMP的单一建模方法相比,基于OMP的分组建模方法不仅可以缩短建模时间,提高建模准确度,还能够获得更加精确的SRAM成品率预测结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨帆	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	64	322	10.0	16.0
2	梁堃	中国工程物理研究院微系统与太赫兹研究中心	6	21	2.0	4.0
6	张龙	中国工程物理研究院微系统与太赫兹研究中心	4	4	1.0	2.0
10	赵振国	中国工程物理研究院高性能数值模拟软件中心	3	31	2.0	3.0