面向VLSI的门级单粒子效应评估技术

• 作者: 刘小雨 张颖 施聿哲 陆禹帆 陈鑫
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子效应 超大规模集成电路(VLSI) 硬件描述语言 门级 三模冗余
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 容错计算与软件测试专题
• 页码范围: 12-15,23
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 2717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19708/j.ckjs.2020.01.003

摘要

由于空间辐射环境充满了各类射线和高能粒子,非常容易诱发集成电路发生单粒子效应,因此有必要开发对应的评估技术,分析单粒子效应对超大规模集成电路(VLSI)的影响.以ISCAS89测试基准电路为主要研究对象,提出了一种适用于VLSI的单粒子效应评估技术,可以通过脚本自动生成仿真和测试文件,实现任意节点的故障注入,并可以在任何一种支持硬件描述语言的EDA仿真工具上进行评估.分别对使用三模冗余技术、自刷新寄存器技术加固后的电路和原始电路进行了对比评估.评估结果符合逻辑,验证了门级单粒子效应评估测试技术的有效性.通过提出的评估技术,可以快速评估电路的抗辐射能力,提高查找设计缺陷、对电路进行针对性加固的效率,对于提高集成电路的安全性和稳定性有着重要的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈鑫	南京航空航天大学电子信息工程学院	21	36	3.0	5.0
2	张颖	南京航空航天大学电子信息工程学院	53	235	8.0	13.0
3	陆禹帆	南京航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0
4	施聿哲	南京航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0
5	刘小雨	南京航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0