电子设备加速寿命试验方法及应用研究

• 作者: 李静
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电子设备 工作寿命 加速因子 加速试验
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: TN06
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2020.03.007

摘要

电子设备具有长寿命、高可靠的特点,若采用传统方法对其进行寿命试验,则存在样本少、失效机理复杂、试验周期长、费用代价高的问题,为此该文给出一种针对高可靠电子产品工作寿命的综合评估方法,该方法能够充分利用已有产品在研制阶段经历的工作剖面,通过提取其中的加速应力和施加方式,利用加速试验模型,计算加速因子,再根据定型要求确定剩余寿命的考核实施方案,从而满足工程要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李静	中国电子科技集团公司第三十八研究所	19	32	3.0	5.0