新型PoP封装存储器的破坏性物理分析方法

• 作者: 周帅 王斌 罗仲涛 翁章钊
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 封装堆叠封装 可靠性 存储器 破坏性物理分析
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 939-945
• 页数: 7页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA2019253

摘要

新型封装堆叠(PoP)封装存储器的结构与常规封装不同,导致现行破坏性物理分析方法不完全适用于新型PoP存储器.对新型PoP存储器结构分析,找出了影响新型PoP封装存储器可靠性的典型缺陷.以某型号PoP封装存储器为例,运用3D-X-ray、金相切片、叠层芯片分离、非顶层芯片内部检查等关键技术,提出了一套适用性强、效率高的综合性破坏性物理分析方案,并通过实例验证了新型PoP封装存储器可靠性评估方法的有效性,同时也为后续标准的修订及其他先进封装器件的破坏性物理分析提供依据和帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王斌		10	4	1.0	1.0
2	周帅		13	6	2.0	2.0
3	翁章钊		2	0	0.0	0.0
4	罗仲涛		1	0	0.0	0.0