基于DE-QPSO算法的MKRVM对电容式RF-MEMS开关的寿命预测方法

• 作者: 何怡刚 白月皎 鲁力
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: 电容式RF-MEMS开关 BREMD MKRVM DE-QPSO 寿命预测
• 年，卷（期）: 2020,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论文|PAPERS
• 页码范围: 66-75
• 页数: 10页
• 分类号: TN406|TP211
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.B2003082

摘要

为进一步研究电容式RF-MEMS开关在实际应用中存在的可靠性问题,提出一种基于差分进化的量子粒子群算法(DE-QPSO)的多核相关向量机(MKRVM)方法对开关寿命进行预测.首先采用了限制带宽经验模态分解(BREMD)来对实验过程中获得的寿命数据进行去噪处理,提高数据的可靠性;其次采用DE-QPSO获取MKRVM的最优稀疏权重,并利用MKRVM算法对此类开关进行寿命预测;最后利用实验获取的实际数据对所用方法的准确性进行测试.实验结果表明,MKRVM能在0.21 s的时间内得到预测结果,所得数据的均方根为3.104 3×106 s,最接近原始数据的3.065 7×106 s;DE-QPSO能在0.45 s内得到优化结果,方差为7×10-5.同时得到弹性系数在4～16 N/m的范围内取值时开关寿命最长的结论.