静态随机存储器在轨自检算法

• 作者: 吴洋 王羿 于新宇 许智龙 任放 黄缙
• 来源期刊: 北京航空航天大学学报
• 关键词: 静态随机存储器(SRAM) 在轨自检 March算法 集成电路测试 航天产品
• 年，卷（期）: 2021,（6）
• 页码范围: 1233-1240
• 页数: 8页
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2020.0140

摘要

静态随机存储器(SRAM)在轨自检应用于星载电子设备上电初始化过程中,能够在电子设备开始工作前发现存储器的故障单元,为评估电子设备健康状态提供依据.分析了SRAM的结构和常见的故障原理,针对在轨应用这一特殊背景开展研究,提出了对典型测试算法的改进方案.在完成对改进方案的分析和评价后,以8 K×8 bit存储器为例开展算法的实现,并验证了改进方案的可行性.与典型测试算法相比,所提改进方案具有资源开销少、故障覆盖率高等优点.