数字集成电路测试系统的测试结构分析

• 作者: 刘晓峰
• 来源期刊: 探索科学
• 关键词: 数字集成电路 测试系统 硬件结构 原理 虚拟技术
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 探索 学习研究
• 页码范围: 253-254
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.12270/j.2095-588X.2021.02.320

摘要

数字集成电路测试系统在目前颇受行业领域重用,它可实现对虚拟电子测量仪器系统的有效集成,基于数字集成电路测试仪基础之上构建硬件测试结构,分析其中工作机制内容.本文中简单了解了数字集成电路测试系统的基本测试原理与测试内容,然后对系统的基本测试结构组成进行了详细分析.