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多孔SiO2为栅介质的IGZO基双电层薄膜晶体管
多孔SiO2为栅介质的IGZO基双电层薄膜晶体管
作者:
崔胜战
张健豪
王晓新
阙怡涵
马卓杰
杜路路
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要:
薄膜晶体管的低电压操作一直是研究者期待解决的问题.双电层电容具有巨大的电容,被认为是低功耗电子器件有希望的候选材料.我们以磁控溅射技术沉积多孔SiO2固态电解质薄膜为介质层,制备了铟镓锌氧(InGaZnO:IGZO)基双电层薄膜晶体管(EDLT).多孔SiO2薄膜表现出大的双电层电容(0.2μF/cm2),具有大的栅极调控作用.因此,IGZO基EDLT可以工作在<1V的栅极电压下.
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文献信息
篇名
多孔SiO2为栅介质的IGZO基双电层薄膜晶体管
来源期刊
电子世界
学科
关键词
年,卷(期)
2021,(15)
所属期刊栏目
探索与观察
研究方向
页码范围
21-22
页数
2页
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中文
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期刊影响力
电子世界
主办单位:
中国电子学会
出版周期:
半月刊
ISSN:
1003-0522
CN:
11-2086/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市
邮发代号:
2-892
创刊时间:
1979
语种:
chi
出版文献量(篇)
36164
总下载数(次)
96
总被引数(次)
46655
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